Berita

Resolusi ultra-tinggi 512×512 (262144) titik fasa, mencapai ukuran muka gelombang berketepatan tinggi dalam jalur 900nm hingga 1200nm, yang boleh digunakan untuk pengukuran penyimpangan sistem optik, penentukuran sistem optik, ukuran pengedaran kekisi dalaman bahan, permukaan meta, superlens pengukuran muka gelombang, dsb.

Dibangunkan khas untuk analisis gelombang hadapan dalam senario penyelidikan industri, pertahanan dan saintifik berkelajuan tinggi seperti tembakan terbang dan medan aliran, ia mempunyai resolusi ultra tinggi 420×420 (176400) titik fasa, tindak balas spektrum luas 400-1100nm, dan 107 bingkai pensampelan berkelajuan tinggi, menyediakan alat ukuran penderiaan muka gelombang yang ideal untuk pengesanan kekasaran permukaan wafer, pengukuran mikro-morfologi substrat berasaskan silikon dan kaca, optik aerodinamik, medan aliran berkelajuan tinggi, pengukuran ketumpatan plasma gas, dsb.

Direka bentuk untuk membantu penyelidikan saintifik dan senario industri berketepatan tinggi, resolusi yang lebih tinggi boleh memberikan maklumat yang lebih terperinci dalam pengesanan hadapan gelombang, resolusi ultra-tinggi 512×512 (262144) titik fasa, tindak balas spektrum lebar 400-1100nm, 10 bingkai penuh- resolusi paparan hasil 3D masa nyata, menyediakan alat ukuran pengesan muka gelombang yang ideal untuk pengesanan hadapan gelombang pancaran laser, adaptif optik, pengukuran permukaan satah, penentukuran sistem optik, pengesanan tingkap optik, pengukuran permukaan sfera optik, pengesanan kekasaran permukaan, kontur mikro permukaan, dsb.

Dibangunkan khusus untuk pengukuran interferometrik yang mudah dalam industri, penyelidikan saintifik dan pertahanan negara. Resolusi tinggi 300×300 (90,000) titik fasa, tindak balas spektrum lebar 400-1100nm, 10 bingkai paparan hasil 3D masa nyata resolusi penuh, menyediakan alat ukuran pengesan muka gelombang yang ideal untuk pengesanan hadapan gelombang pancaran laser, optik penyesuaian, sistem optik penentukuran, pengesanan tingkap optik, bentuk permukaan satah optik, ukuran bentuk permukaan sfera, kekasaran permukaan, permukaan pengesanan kontur mikro, dsb.