Untuk Pengukuran Penderiaan Wavefront, setiap orang mempunyai kebimbangan khusus yang berbeza mengenainya, dan apa yang kami lakukan adalah untuk memaksimumkan keperluan produk bagi setiap pelanggan, jadi kualiti Pengukuran Penderiaan Wavefront kami telah diterima dengan baik oleh ramai pelanggan dan menikmati reputasi yang baik di banyak negara. . Pengukuran Penderiaan Gelombang BOJIONG mempunyai reka bentuk ciri & prestasi praktikal & harga yang kompetitif, untuk mendapatkan maklumat lanjut tentang Pengukuran Penderiaan Gelombang, sila hubungi kami.
BOJIONG mempunyai pasukan teknikal yang kukuh, perkhidmatan profesional dan harga yang lebih baik. Jika anda berminat dengan produk Wavefront Sensing Measurement, sila hubungi kami. Kami mempunyai pengalaman hampir 30 tahun dan asas teori yang mendalam dalam bidang penderiaan dan pengukuran hadapan gelombang. Prinsip kerja Pengukuran Penderiaan Gelombang ialah bahagian hadapan gelombang yang akan dikesan dibiaskan oleh parut bercampur berkod secara rawak, dan sejumlah empat pancaran cahaya difraksi masing-masing dijana dalam dua arah ortogon. Empat pancaran cahaya terbias mengganggu permukaan pengimejan, dan pinggir gangguan ricih melintang bagi empat hadapan gelombang boleh diperolehi. Kelebihan peralatan pengukur penderiaan hadapan gelombang: gangguan optik tunggal rintangan getaran yang kuat, tiada cahaya rujukan, susun atur ringkas, tiada peranti gangguan khas, pelarasan cepat dan mudah, pengimejan masa nyata, tiada proses peralihan fasa, terutamanya sesuai untuk pengesanan ketepatan tinggi dalam persekitaran kilang.
Produk Pengukuran Penderiaan Gelombang BOJIONG sesuai untuk pengesanan hadapan gelombang pancaran laser, optik adaptif, ukuran bentuk permukaan planar, penentukuran sistem optik, pengesanan tingkap optik, satah optik, ukuran bentuk permukaan sfera, pengesanan kekasaran permukaan, pengesanan kekasaran permukaan wafer, substrat silikon dan kaca pengukuran mikrostruktur, aerooptik, medan aliran berkelajuan tinggi, pengukuran ketumpatan plasma gas, Pengukuran penyimpangan sistem optik, pengukuran pengedaran kekisi dalaman bahan, metasurface, ukuran hadapan gelombang hyperlens, pengesanan sel hidup 3D tanpa penanda, pengesanan tisu biologi, pengesanan sel kuman, pengesanan struktur mikronano, dsb.
