Pengesan Kecacatan Permukaan Komponen Optik AOI450 mampu memeriksa komponen optik dan anak tetingkap optik. Ia mempunyai resolusi pengesanan sehingga 0.5 mikrometer dan apertur pemeriksaan maksimum 450mm kali 450mm. Peranti boleh mengeluarkan laporan secara automatik, dengan format yang termasuk Piawaian Ketenteraan A.S. MIL-PRF-13830A/B dan Piawaian Antarabangsa ISO10110-7.
|
Nama Produk |
Pengesan Kecacatan Permukaan Komponen Optik AOI450 |
|
Saiz pengesanan maksimum |
450mmX450mm |
|
Resolusi pengesanan |
0.5μm |
|
Kaedah pengesanan |
Pengimejan tatasusunan medan gelap pengimbasan |
|
Laporan keluaran |
Piawaian kebangsaan, piawaian ketenteraan A.S. dan laporan perusahaan tersuai. |
Pengesan Kecacatan Permukaan Komponen Optik AOI450 menggunakan teknologi penglihatan mesin untuk mencapai pengesanan kecacatan permukaan automatik, berkelajuan tinggi dan ketepatan tinggi pada komponen optik dan anak tetingkap optik, dengan berkesan menangani isu kecekapan rendah dan ketepatan yang lemah dalam pemeriksaan visual. Resolusi pengesanan tertinggi boleh mencapai 0.5 mikrometer, dan apertur pengesanan maksimum boleh sebesar 450mm kali 450mm. Teknologi pengimejan yang digunakan termasuk pencahayaan anulus dan pengimejan medan gelap taburan mikro. Peranti ini mampu menjana laporan secara automatik, dengan format yang merangkumi Piawaian Ketenteraan A.S. MIL-PRF-13830A/B dan Piawaian Antarabangsa ISO 10110-7.
Sesuai untuk kawalan kualiti kecacatan permukaan dalam komponen optik, wafer tingkap optik, wafer silikon, wafer nilam, dsb.
Kecacatan penggilap: calar, lubang, serpihan, buih, kotoran, dsb.
Peralatan ini boleh menangani jenis kecacatan berikut:
Kecacatan salutan: delaminasi, kerosakan pada salutan, dsb.
◆ Pencahayaan anulus berbilang rasuk
◆ Pengimejan pembesaran boleh ubah dengan pilihan pembesaran tinggi dan rendah
◆ Ketepatan pengesanan 0.5 μm
◆ Pengesanan berbilang wafer seluruh plat
◆ Motor linear untuk pengimejan pantas
◆ Dilengkapi dengan FFU (Unit Penapis Kipas) untuk memastikan kebersihan dalaman
Pencahayaan pengimejan anulus berbilang rasuk
Mikroskop zum automatik dari 1X hingga 8X.
Pengapit pantas boleh laras untuk keseluruhan plat.
Motor linear 2D berketepatan tinggi memastikan ketepatan penangkapan pantas.
Keluaran hamparan standard tentera
Paparan keputusan ujian
Calar permukaan salutan.
calar
Tempat kerosakan laser 1
Tempat kerosakan laser 2
Titik zarah skala nano
Serat
Deliquescence komponen
kerosakan lapisan membran
|
Pengesan Kecacatan Permukaan Komponen Optik AOI450 |
|
|
item |
Penerangan |
|
Model |
AOI450 |
|
Fungsi Peralatan |
Pengesanan kecacatan kuantitatif untuk komponen optik satah permukaan ultra licin, dan output laporan elektronik mengikut keputusan pengesanan seperti Piawaian Ketenteraan A.S., Piawaian Kebangsaan dan Piawaian Antarabangsa. |
|
Saiz Pengesanan Maksimum |
450mmX450mm |
|
Ketepatan Pengesanan |
Pembesaran rendah 5μm, pembesaran tinggi 0.5μm |
|
Kaedah Pengapit |
Pengapit seluruh plat atau pengapit sekeping tunggal, menyokong pengapit kepingan persegi dan bulat. |
|
Kaedah Meratakan |
Bahan plat keseluruhan dibantu pemfokusan automatik, meratakan elektrik. |
|
Kaedah Pengimejan |
Pencahayaan anular, pengimejan medan gelap taburan mikro, selaras dengan "Kaedah Pengesanan Kuantitatif untuk Kecacatan Permukaan Komponen Optik—Kaedah Pengimejan Medan Gelap Penyerakan Mikro" yang diterangkan dalam standard kebangsaan GB/T 41805-2022. |
|
Kaedah Pengesanan |
Jahitan imbasan pembesaran rendah, kuantifikasi kedudukan pembesaran tinggi. |
|
Mekanisme Pengimbasan |
Motor linear 2D, lejang 150mm × 150mm. |
|
Parameter Kamera |
Kamera sasaran besar, 5 juta piksel. |
|
Format Laporan |
Excel, format Word, U.S. Military Standard, National Standard, International Standard, atau laporan statistik perusahaan. |
|
Konfigurasi PC Perindustrian |
pemproses i7, memori 32GB, cakera keras 1T, memori video 6GB. |
|
Dimensi Peralatan |
900mm × 800mm × 2000mm (L × W × H) |
|
Voltan Bekalan Kuasa |
220V ± 10% |
Alamat
No. 578 Yingkou Road, Daerah Yangpu, Shanghai, China
Tel
E-mel
