Penganalisis Gelombang Inframerah Dekat

Penganalisis Hadapan Gelombang Inframerah Dekat yang menggabungkan teknologi paten pembelauan empat gelombang berkod rawak dengan kamera inframerah membolehkan pengukuran gangguan dijalankan oleh sistem pengimejan biasa. Ia mempunyai tahap rintangan dan kestabilan getaran yang sangat tinggi, membolehkan pengukuran ketepatan peringkat nanometer tanpa memerlukan pengasingan getaran. Ia sesuai untuk mengukur taburan kekisi dalaman bahan, serta untuk pengukuran muka gelombang metasurfaces dan hyperlenses.

Spesifikasi Item:

Ciri-ciri Penganalisis Gelombang Dekat-Inframerah BOJIONG

◆Jalur 900nm~1200nm spektrum luas

◆2nm RMS resolusi fasa tinggi

◆Leraian ultra tinggi 512×512 (262144) titik fasa

◆Gangguan diri cahaya saluran tunggal, tiada lampu rujukan diperlukan

◆Julat dinamik yang besar sehingga 270μm

◆Prestasi anti-getaran yang sangat kuat, tidak memerlukan pengasingan getaran optik

◆Sama seperti pengimejan, pembinaan laluan optik yang mudah dan pantas

◆Menyokong rasuk bercantum dan rasuk tertumpu NA yang besar

Penggunaan Penganalisis Gelombang Dekat-Inframerah BOJIONG

Penganalisis Hadapan Gelombang Inframerah Dekat BOJIONG ini digunakan dalam pengukuran penyimpangan sistem optik, penentukuran sistem optik, ukuran taburan kekisi dalaman bahan, permukaan hiper, ukuran hadapan gelombang hyperlens

BOJIONG Butiran Penganalisis Wavefront-Inframerah Dekat

BOJIONG Penganalisis Gelombang Inframerah Dekat yang dibangunkan oleh pasukan profesor dari Universiti Zhejiang dan Universiti Teknologi Nanyang Singapura, dengan teknologi berpaten domestik, ia menggabungkan pembelauan dan gangguan untuk mencapai gangguan ricih melintang empat gelombang biasa, dengan kepekaan pengesanan yang unggul dan anti- prestasi getaran, dan boleh merealisasikan interferometri dinamik masa nyata dan berkelajuan tinggi tanpa pengasingan getaran. Pengukuran masa nyata menunjukkan kadar bingkai lebih daripada 10 bingkai. Pada masa yang sama, sensor FIS4 mempunyai resolusi fasa ultra tinggi 512×512 (260,000 titik fasa), jalur pengukuran meliputi 200nm~15μm, kepekaan pengukuran mencapai 2nm, dan kebolehulangan pengukuran lebih baik daripada 1/1000λ ( RMS). Ia boleh digunakan untuk analisis kualiti pancaran laser, pengesanan medan aliran plasma, pengukuran masa nyata pengedaran medan aliran berkelajuan tinggi, penilaian kualiti imej sistem optik, pengukuran profil mikroskopik dan pengimejan fasa kuantitatif sel biologi.