Penderia Interferometrik Empat Gelombang Ultraviolet

Penderia Interferometrik Empat Gelombang Ultraviolet menggabungkan teknologi proprietari kami bagi pengekodan rawak pembelauan empat gelombang, membolehkan gangguan pada satah fokus belakang dengan keperluan minimum untuk keselarasan sumber cahaya, sekali gus menghapuskan keperluan untuk peralihan fasa. Melalui sistem pengimejan ultraungu, sensor mampu mengukur muka gelombang masa nyata, mempamerkan rintangan dan kestabilan getaran yang sangat baik, dan boleh mencapai ukuran ketepatan peringkat nanometer walaupun tanpa menggunakan pengasingan getaran. BOJIONG Optoelektronik bersedia untuk mentakrifkan semula piawaian untuk pengukuran dan analisis prestasi optik, membawa industri ke era baharu ketepatan dan kecekapan.

Spesifikasi Item

Ciri Penderia Interferometrik Empat Gelombang Ultraviolet BOJIONG

◆Jalur 200nm~450nm spektrum UV

◆Leraian ultra tinggi 512×512 (262144) titik fasa

◆Gangguan diri cahaya saluran tunggal, tiada lampu rujukan diperlukan

◆2nm RMS resolusi fasa tinggi

◆Prestasi anti-getaran yang sangat kuat, tidak memerlukan pengasingan getaran optik

◆Sama seperti pengimejan, pembinaan laluan optik yang mudah dan pantas

◆Menyokong rasuk bercantum dan rasuk tidak bercantum NA tinggi

Penggunaan Penderia Interferometrik Empat Gelombang Ultraviolet BOJIONG

Penderia Interferometrik Empat Gelombang Ultraviolet BOJIONG ini digunakan untuk pengukuran penyimpangan sistem optik, penentukuran sistem optik, ukuran bentuk permukaan rata (wafer), ukuran bentuk permukaan sfera optik, dsb.

Penderia Interferometrik Empat Gelombang Ultraviolet BOJIONG Butiran

Penderia Interferometrik Empat Gelombang Ultraviolet BOJIONG dibangunkan oleh pasukan profesor dari Universiti Zhejiang dan Universiti Teknologi Nanyang Singapura, dengan teknologi berpaten domestik, ia menggabungkan pembelauan dan gangguan untuk mencapai gangguan ricih melintang empat gelombang biasa, dengan kepekaan pengesanan yang unggul dan anti -prestasi getaran, dan boleh merealisasikan interferometri dinamik masa nyata dan berkelajuan tinggi tanpa getaran pengasingan. Pengukuran masa nyata menunjukkan kadar bingkai lebih daripada 10 bingkai. Pada masa yang sama, sensor FIS4 mempunyai resolusi fasa ultra tinggi 512×512 (260,000 titik fasa), jalur pengukuran meliputi 200nm~15μm, kepekaan pengukuran mencapai 2nm, dan kebolehulangan pengukuran lebih baik daripada 1/1000λ ( RMS). Ia boleh digunakan untuk analisis kualiti pancaran laser, pengesanan medan aliran plasma, pengukuran masa nyata pengedaran medan aliran berkelajuan tinggi, penilaian kualiti imej sistem optik, pengukuran profil mikroskopik dan pengimejan fasa kuantitatif sel biologi.