Penderia Gelombang Resolusi Tinggi

Penderia Gelombang Resolusi Tinggi, yang memaparkan 10 bingkai hasil 3D resolusi penuh dalam masa nyata, mempunyai resolusi tinggi 300×300 (90,000) titik fasa dan tindak balas spektrum luas antara 400-1100nm. Ia sesuai untuk aplikasi seperti pengesanan hadapan gelombang pancaran laser, optik penyesuaian, penentukuran sistem optik, pemeriksaan tingkap optik, pengukuran bentuk permukaan satah optik, ukuran bentuk permukaan sfera, kekasaran permukaan dan pengesanan profil mikro permukaan, memberikan yang ideal. alat untuk penderiaan dan pengukuran muka gelombang.

Item Spesifikasi：

Ciri Penderia Gelombang Resolusi Tinggi BOJIONG

◆Menyokong rasuk bercantum dan rasuk tertumpu NA yang besar

◆Resolusi tinggi 300×300 (90000) titik fasa

◆Gangguan diri cahaya saluran tunggal, tiada cermin rujukan diperlukan

◆Jalur 400nm~1100nm spektrum luas

◆2nm RMS resolusi fasa tinggi

◆ Rintangan getaran ultra tinggi, tidak memerlukan pengasingan getaran optik

◆Mencapai pembinaan laluan cahaya gangguan yang mudah dan pantas

 Penggunaan Penderia Gelombang Resolusi Tinggi BOJIONG

Penderia Gelombang Resolusi Tinggi BOJIONG ini digunakan dalam pengesanan hadapan gelombang pancaran laser, optik penyesuaian, ukuran bentuk permukaan, penentukuran sistem optik, pengesanan tingkap optik, satah optik, ukuran bentuk permukaan sfera, pengesanan kekasaran permukaan

BOJIONG Penderia Gelombang Resolusi Tinggi Butiran

Sensor Gelombang Resolusi BOJIONGH igh yang dibangunkan oleh sekumpulan profesor dari Universiti Zhejiang dan Universiti Teknologi Nanyang Singapura, dengan teknologi berpaten domestik, ia menggabungkan pembelauan dan gangguan untuk mencapai gangguan ricih melintang empat gelombang biasa, dengan kepekaan pengesanan yang unggul dan anti-getaran prestasi, dan boleh merealisasikan interferometri dinamik masa nyata dan berkelajuan tinggi tanpa pengasingan getaran. Pengukuran masa nyata menunjukkan kadar bingkai lebih daripada 10 bingkai. Pada masa yang sama, sensor FIS4 mempunyai resolusi fasa ultra tinggi 512×512 (260,000 titik fasa), jalur pengukuran meliputi 200nm~15μm, kepekaan pengukuran mencapai 2nm, dan kebolehulangan pengukuran lebih baik daripada 1/1000λ ( RMS). Ia boleh digunakan untuk analisis kualiti pancaran laser, pengesanan medan aliran plasma, pengukuran masa nyata pengedaran medan aliran berkelajuan tinggi, penilaian kualiti imej sistem optik, pengukuran profil mikroskopik dan pengimejan fasa kuantitatif sel biologi.