Penderia Gelombang Ultraungu

Penderia Gelombang Ultraviolet, menampilkan resolusi fasa tinggi RMS 2NM dan rintangan getaran yang sangat kuat. Ia juga mempunyai resolusi 512×512 piksel (262,144 titik fasa), mampu melakukan pengukuran gangguan pada satah fokus belakang. Teknologi ini memerlukan sumber cahaya mempunyai koheren yang rendah dan menghapuskan keperluan untuk peralihan fasa. Dengan sistem pengimejan ultraviolet, peranti ini mampu mengukur muka gelombang masa nyata.

Spesifikasi Item:

Ciri Penderia Gelombang Ultraviolet BOJIONG

◆Jalur 200nm~450nm spektrum UV

◆Leraian ultra tinggi 512×512 (262144) titik fasa

◆Gangguan diri cahaya saluran tunggal, tiada lampu rujukan diperlukan

◆2nm RMS resolusi fasa tinggi

◆Sama seperti pengimejan, pembinaan laluan optik yang mudah dan pantas

◆Menyokong rasuk bercantum dan rasuk tidak bercantum NA tinggi

◆Prestasi anti-getaran yang sangat kuat, tidak memerlukan pengasingan getaran optik

 Penggunaan Penderia Gelombang Ultraviolet BOJIONG

Penderia Gelombang Ultraviolet BOJIONG ini digunakan untuk pengukuran penyimpangan sistem optik, penentukuran sistem optik, ukuran bentuk permukaan rata (wafer), ukuran bentuk permukaan sfera optik, dsb.

Penderia Gelombang Ultraviolet BOJIONG Butiran

Penderia Gelombang Ultraviolet BOJIONG yang dibangunkan oleh pasukan profesor dari Universiti Zhejiang dan Universiti Teknologi Nanyang Singapura, dengan teknologi yang dipatenkan domestik, ia menggabungkan pembelauan dan gangguan untuk mencapai gangguan ricih melintang empat gelombang biasa, dengan kepekaan pengesanan yang unggul dan prestasi anti-getaran , dan boleh merealisasikan interferometri dinamik masa nyata dan berkelajuan tinggi tanpa pengasingan getaran. Pengukuran masa nyata menunjukkan kadar bingkai lebih daripada 10 bingkai. Pada masa yang sama, sensor FIS4 mempunyai resolusi fasa ultra tinggi 512×512 (260,000 titik fasa), jalur pengukuran meliputi 200nm~15μm, kepekaan pengukuran mencapai 2nm, dan kebolehulangan pengukuran lebih baik daripada 1/1000λ ( RMS). Ia boleh digunakan untuk analisis kualiti pancaran laser, pengesanan medan aliran plasma, pengukuran masa nyata pengedaran medan aliran berkelajuan tinggi, penilaian kualiti imej sistem optik, pengukuran profil mikroskopik dan pengimejan fasa kuantitatif sel biologi.