Penderia Hadapan Gelombang Inframerah Dekat

Sensor Hadapan Gelombang Inframerah Dekat dengan julat dinamik yang mengagumkan sehingga 270μm. Ia mempunyai rintangan dan kestabilan getaran yang luar biasa, membolehkan pengukuran ketepatan peringkat nanometer tanpa memerlukan pengasingan getaran. Instrumen ini sesuai untuk mengukur taburan kekisi dalaman bahan, serta ukuran hadapan gelombang untuk permukaan meta dan hiperlens. Kami akan sentiasa mematuhi prinsip "kualiti diutamakan, pelanggan diutamakan," dan kami dengan hormatnya menjemput pelanggan untuk melawat kami untuk perundingan.

Spesifikasi Item:

Ciri-ciri Penderia Gelombang Dekat-Inframerah BOJIONG

◆Julat dinamik yang besar sehingga 270μm

◆2nm RMS resolusi fasa tinggi

◆Leraian ultra tinggi 512×512 (262144) titik fasa

◆Gangguan diri cahaya saluran tunggal, tiada lampu rujukan diperlukan

◆Jalur 900nm~1200nm spektrum luas

◆Prestasi anti-getaran yang sangat kuat, tidak memerlukan pengasingan getaran optik

◆Sama seperti pengimejan, pembinaan laluan optik yang mudah dan pantas

◆Menyokong rasuk bercantum dan rasuk tertumpu NA yang besar

 Penggunaan Penderia Gelombang Dekat-Inframerah BOJIONG

Penderia Gelombang Inframerah Dekat BOJIONG ini digunakan dalam pengukuran penyimpangan sistem optik, penentukuran sistem optik, ukuran pengedaran kekisi dalaman bahan, permukaan hiper, ukuran hadapan gelombang hyperlens

BOJIONG Butiran Penderia Gelombang Inframerah Dekat

Penderia Gelombang Inframerah Dekat BOJIONG dibangunkan oleh pasukan profesor dari Universiti Zhejiang dan Universiti Teknologi Nanyang Singapura, dengan teknologi berpaten domestik, ia menggabungkan pembelauan dan gangguan untuk mencapai gangguan ricih melintang empat gelombang biasa, dengan kepekaan pengesanan yang unggul dan anti- prestasi getaran, dan boleh merealisasikan interferometri dinamik masa nyata dan berkelajuan tinggi tanpa pengasingan getaran. Pengukuran masa nyata menunjukkan kadar bingkai lebih daripada 10 bingkai. Pada masa yang sama, sensor FIS4 mempunyai resolusi fasa ultra tinggi 512×512 (260,000 titik fasa), jalur pengukuran meliputi 200nm~15μm, kepekaan pengukuran mencapai 2nm, dan kebolehulangan pengukuran lebih baik daripada 1/1000λ ( RMS). Ia boleh digunakan untuk analisis kualiti pancaran laser, pengesanan medan aliran plasma, pengukuran masa nyata pengedaran medan aliran berkelajuan tinggi, penilaian kualiti imej sistem optik, pengukuran profil mikroskopik dan pengimejan fasa kuantitatif sel biologi.