Penderia hadapan gelombang kos efektif BOJIONG NIR menyepadukan teknologi pembelauan empat gelombang berkod rawak yang dipatenkan dengan kamera inframerah, membolehkan gangguan pada kedudukan satah imej belakang. Persediaan ini membolehkan sistem pengimejan standard melakukan pengukuran gangguan dengan rintangan dan kestabilan getaran yang luar biasa, mencapai ketepatan tahap nanometer tanpa memerlukan pengasingan getaran. Sensor memerlukan koheren minimum daripada sumber cahaya dan menghapuskan keperluan untuk peralihan fasa.
nama produk |
Penderia Interferometrik Empat Gelombang Dekat Inframerah |
Julat panjang gelombang |
900nm~1200nm |
Saiz sasaran |
12mm×12mm |
Resolusi spatial |
23.4μm |
Resolusi pensampelan |
512×512(262144piksel) |
Resolusi fasa |
<2nmRMS |
Ketepatan mutlak |
15nmRMS |
Julat dinamik |
270μm(256min) |
Kadar persampelan |
32fps |
Kelajuan pemprosesan masa nyata |
7Hz(Leraian penuh) |
Jenis antara muka |
USB3.0 |
Dimensi |
70mm×46.5mm×68.5mm |
Berat badan |
kira-kira 240g |
◆Leraian ultra tinggi 512×512 (262144) titik fasa
◆Jalur 900nm~1200nm spektrum luas
◆Gangguan diri cahaya saluran tunggal, tiada lampu rujukan diperlukan
◆2nm RMS resolusi fasa tinggi
◆Julat dinamik yang besar sehingga 270μm
◆Sama seperti pengimejan, pembinaan laluan optik yang mudah dan pantas
◆Prestasi anti-getaran yang sangat kuat, tidak memerlukan pengasingan getaran optik
◆Menyokong rasuk bercantum dan rasuk tertumpu NA yang besar
BOJIONG Dekat-Inframerah Empat Gelombang Interferometrik Sensor ini digunakan dalam pengukuran penyimpangan sistem optik, penentukuran sistem optik, ukuran pengagihan kekisi dalaman bahan, permukaan hiper, pengukuran hadapan gelombang hyperlens
Contoh ukuran penyimpangan sistem optik |
Contoh ukuran taburan kekisi di dalam bahan |
Contoh ukuran penentukuran sistem optik |
Contoh ukuran muka gelombang metasurface
|
Contoh ukuran muka gelombang hyperlens
|
|
Penderia hadapan gelombang berkesan kos BOJIONG NIR, hasil usaha kerjasama antara profesor dari Universiti Zhejiang dan Universiti Teknologi Nanyang Singapura, menggabungkan teknologi dipatenkan domestik yang menyatukan pembelauan dan gangguan untuk mencapai gangguan ricih melintang empat gelombang standard. Sensor ini cemerlang dalam kepekaan pengesanan dan keupayaan anti-getaran, membolehkan interferometri dinamik masa nyata dan berkelajuan tinggi tanpa memerlukan pengasingan getaran, dengan kadar bingkai melebihi 10 bingkai untuk pengukuran masa nyata.
Selain itu, sensor FIS4 dalam persediaan ini menjangkau julat pengukuran daripada 200 nanometer hingga 15 mikrometer, menampilkan resolusi fasa ultra tinggi 512×512 (260,000 titik fasa), kebolehulangan pengukuran lebih tinggi daripada 1/1000λ (RMS), dan kepekaan daripada 2 nanometer. Ia serba boleh untuk aplikasi termasuk analisis kualiti pancaran laser, pengesanan medan aliran plasma, pengukuran pengedaran medan aliran berkelajuan tinggi masa nyata, penilaian kualiti imej sistem optik, pengukuran profil mikroskopik dan pengimejan fasa kuantitatif sel biologi.
Alamat
No. 578 Yingkou Road, Daerah Yangpu, Shanghai, China
Tel
E-mel