FIS4 Resolusi Tinggi Wavefront Sensor 400-1100nm
TheBojiongFIS4 HR-W Wavefront Sensor 400-1100nmCiri-ciri 300x300 titik pengesanan fasa resolusi tinggi dan teras pengiraan berprestasi tinggi (dengan ketepatan pengukuran sehingga 2nm RMS), menyediakan data gelombang depan masa nyata pada resolusi penuh pada 10 bingkai sesaat. Reka bentuk interferometri umum revolusionernya memastikan operasi yang stabil walaupun dalam persekitaran getaran tinggi tanpa memerlukan pengasingan getaran. Algoritma rekonstruksi yang dikodkan secara rawak dan berkuasa secara rawak memastikan rintangan gangguan yang sangat baik, prestasi pengukuran yang tepat, dan kebolehgunaan perindustrian yang luas.
BojiongFIS4-HR-W Wavefront Sensor 400-1100nm Pengenalan
TheBojiongFIS4 Resolusi Tinggi Wavefront Sensor 400-1100nmadalah produk pemeriksaan optik ketepatan tinggi syarikat kami. Ia mematuhi piawaian pensijilan ISO 9001 dan China National Institute of Metrology (NIM) dan dilengkapi dengan jaminan satu tahun. TheSensor Wavefront FIS4-HR-WMenggunakan interferometri jalan biasa dan algoritma pembinaan semula gelombang masa nyata, menghapuskan keperluan untuk peralihan fasa dan menawarkan rintangan getaran yang luar biasa. Direka untuk memenuhi keperluan penyelidikan saintifik dan pemeriksaan industri yang paling ketat, ia menawarkan operasi plug-and-play dan penyelenggaraan yang mudah.
BojiongFIS4-HR-W Wavefront Sensor 400-1100nm Parameter (spesifikasi)
|
Sumber cahaya |
LED, lampu halogen dan sumber cahaya spektrum yang luas |
|
Julat panjang gelombang |
400 ~ 1100nm(Untuk cahaya putih) |
|
Saiz sasaran |
7.07mm × 7.07mm |
|
Resolusi Spatial |
23.6μm |
|
Resolusi output fasa |
300 × 300 |
|
Ketepatan mutlak |
10nmrms |
|
Resolusi fasa |
≤2nmrms |
|
Julat dinamik |
≥80μm |
|
Kadar sampel |
24fps |
|
Kelajuan pemprosesan masa nyata |
10Hz(Pada resolusi penuh) |
|
Jenis antara muka |
Antara muka rangkaian |
|
Saiz |
56.5mm × 43mm × 41.5mm |
|
Berat |
Kira -kira120g |
|
Kaedah penyejukan |
Tiada |
|
Nota: Tidak disyorkan untuk pengukuran laser kerana mungkin terdapat gangguan pengimejan dalam pengukuran laser. |
|
BojiongFIS4-HR-W Wavefront Sensor 400-1100nm Ciri dan aplikasi
Sejak tahun 2006, pasukan Profesor Yang Yongying di Zhejiang University telah melancarkan spektrum luasSensor Wavefront Series FIS4Selepas 17 tahun penyelidikan dan pembangunan, menggunakan reka bentuk umum dan algoritma pembinaan semula gelombang masa nyata.
· Pengesanan masa nyata data gelombang depan adalah mungkin tanpa memerlukan getaran
platform pengasingan.
· Kepekaan boleh mencapai 2nm RMS.
· Reka bentuk laluan optik tunggal menghapuskan keperluan untuk cahaya rujukan, membolehkan operasi plug-and-play.
· Saiz hanya saiz penumbuk.
IniFIS4 Resolusi Tinggi Wavefront Sensor 400-1100nmdireka untuk interferometri mudah dalam industri, penyelidikan saintifik, dan pertahanan negara. Dengan resolusi tinggi 300 × 300 (90,000) titik fasa, tindak balas spektrum yang luas dari 400 hingga 1100 nm, dan 10 bingkai paparan 3D masa nyata pada resolusi penuh, ia menyediakan alat pengukuran penderiaan gelombang gelombang yang ideal pemeriksaan.
BojiongFIS4-HR-W Wavefront Sensor 400-1100nm Permohonan
|
|
Pengukuran bentuk permukaan planar optik |
|
Pengukuran bentuk permukaan sfera optik |
Pengukuran penyimpangan sistem optik |
|
Pengesanan sekeping tetingkap optik |
Pengukuran pengedaran kekisi di dalam bahan |
|
Respons Sensing Wavefront Mode Zernike |
|
BojiongFIS4-HR-W Wavefront Sensor 400-1100nm Perincian
TheFIS4 Resolusi Tinggi Wavefront Sensor 400-1100nmMenggunakan teknologi difraksi empat gelombang berkod rawak yang dipatenkan untuk mencapai interferensi diri dari gelombang depan yang diukur, menjana gangguan pada satah imej belakang. Ia memerlukan koheren sumber cahaya yang minimum dan menghapuskan keperluan untuk peralihan fasa, membolehkan pengukuran interferometrik menggunakan sistem pengimejan standard. TheSensor Wavefront FIS4-HR-W Menawarkan rintangan dan kestabilan getaran yang luar biasa, mencapai ketepatan peringkat nanometer tanpa memerlukan pengasingan getaran. Berbanding dengan sensor Hartmann pelbagai microlens, ia mempunyai lebih banyak titik fasa resolusi tinggi, jarak panjang gelombang yang lebih luas, julat dinamik yang lebih besar, dan nisbah prestasi harga yang unggul.
Rajah.1. Prinsip Pencitraan Pencit
Rajah.2. Rekonstruksi Wavefront Square dari empat gelombang ricih interferogram
TheSensor Wavefront FIS4, kerana kelebihannya yang unik seperti kekompakan, ketahanan, resolusi temporal yang tinggi, dan keserasian dengan sistem mikroskopi yang sedia ada, telah menjadi alat yang kuat dan serba boleh dengan pelbagai aplikasi dalam penyelidikan dan industri. Pada mulanya digunakan untuk pemeriksaan lantai kedai optik tradisional, termasuk ujian komponen optik, penilaian rasuk laser, dan optik penyesuaian, aplikasinya telah diperluaskan untuk memasukkan pengimejan bioperubatan, kedudukan nanopartikel, pencirian metasurface, dan pencirian kecerunan suhu.
TheSensor Wavefront FIS4Reka bentuk padat menjadikannya mudah untuk mengintegrasikan ke dalam sistem mikroskopi yang sedia ada, sementara keteguhannya ditunjukkan oleh keupayaannya untuk mengekalkan kepekaan interferometrik yang tepat walaupun dalam persekitaran getaran tinggi. Selain itu, sensor gelombang FIS4 mampu mengukur satu tembakan, membolehkan penangkapan proses dinamik cepat. Dalam penyelidikan bioperubatan,Sensor Wavefront FIS4telah digunakan untuk label bebas, resolusi tinggi, pengimejan masa nyata pelbagai sel hidup, seperti COS-7, sel HT1080, sel RPE, sel CHO, sel HEK, dan neuron.
TheSensor Wavefront FIS4juga telah digunakan untuk pengimejan fasa-kelewatan, memberikan kontras yang kuat untuk menggambarkan tisu anisotropik dan struktur subselular seperti gentian kolagen dan sitoskeleton. Teknologi ini juga telah diperluaskan kepada pengimejan fasa dalam X-ray, Mid-Wavelength Infrared (MWIR), dan kawasan inframerah panjang gelombang panjang (LWIR), terus menunjukkan potensi untuk aplikasi interdisipliner. Tambahan pula, penyelidikan baru -baru ini menggunakanSensor Wavefront FIS4telah menggunakan teknologi penderiaan gelombang depan yang meluas kepada pencirian metasurfaces dan bahan dua dimensi, menunjukkan kegunaannya yang pelbagai dan nilai berpotensi dalam sains optik dan bahan.
Alamat
No. 578 Yingkou Road, Daerah Yangpu, Shanghai, China
Tel
E-mel
